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METODOLOGIAS, MODELOS Y PARAMETROS PARA EVALUACION DEL IMPACTO AM BIENTAL DE CONTAMINANTES PELIGROSOS Y RADIACTIVOS | 9788478344611 | Portada

METODOLOGIAS, MODELOS Y PARAMETROS PARA EVALUACION DEL IMPACTO AM BIENTAL DE CONTAMINANTES PELIGROSOS Y RADIACTIVOS

AGÜERO, A. ET AL.

Precio: 26.50 €

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Datos técnicos

  • ISBN 9788478344611
  • Año Edición 2005
  • Páginas 199
  • Encuadernación Rústica
  • Idioma Español
 
 

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